ĐẠI HỌC QUỐC GIA HÀ NỘI
TRƢỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ
Nguyễn Thị Luyến
CHẾ TẠO VẬT LIỆU CdSe/CdS
CẤU TRÚC NANO DẠNG TETRAPOD VÀ
NGHIÊN CỨU TÍNH CHẤT QUANG CỦA CHÚNG
LUẬN ÁN TIẾN SĨ VẬT LIỆU VÀ LINH KIỆN NANO
Hà Nội – 2015
ĐẠI HỌC QUỐC GIA HÀ NỘI
TRƢỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ
-----------------
Nguyễn Thị Luyến
CHẾ TẠO VẬT LIỆU CdSe/CdS
CẤU TRÚC NANO DẠNG TETRAPOD VÀ
NGHIÊN CỨU TÍNH CHẤT QUANG CỦA CHÚNG
LUẬN ÁN TIẾN SĨ VẬT LIỆU VÀ LINH KIỆN NANO
Chuyên ngành: Vật liệu và Linh kiện nano
(Chuyên ngành đào tạo thí điểm)
NGƢỜI HƢỚNG DẪN KHOA HỌC:
1. PGS.TS. Nguyễn Xuân Nghĩa
2. PGS.TS. Nguyễn Kiên Cƣờng
Hà Nội - 2015
LỜI CAM ĐOAN
Tôi xin cam đoan đây là công trình nghiên cứu của riêng tôi dưới sự
hướng dẫn của PGS.TS. Nguyễn Xuân Nghĩa và PGS.TS. Nguyễn Kiên
Cường. Các số liệu, kết quả trong luận án là trung thực và chưa từng được ai
công bố trong bất kì công trình nào khác.
Tác giả luận án
Nguyễn Thị Luyến
LỜI CẢM ƠN
Đầu tiên, em xin được gửi lời cảm ơn chân thành đến PGS.TS. Nguyễn
Xuân Nghĩa và PGS.TS. Nguyễn Kiên Cường đã tận tình hướng dẫn em trong
nghiên cứu khoa học và giúp đỡ em hoàn thành luận án.
Em xin chân thành cảm ơn các Thầy, Cô giáo trong Khoa Vật lý Kỹ
thuật và Công nghệ nano - Trường Đại học Công nghệ - ĐHQG HN đã tận
tình dạy dỗ và tạo mọi điều kiện thuận lợi nhất về cơ sở vật chất giúp em
hoàn thành luận án.
Xin bày tỏ lời cảm ơn chân thành đến Khoa Vật lý và Công nghệ,
Trường Đại học Khoa học - Đại học Thái nguyên đã tạo mọi điều kiện thuận
lợi để tôi được đi làm NCS và hoàn thành chương trình đào tạo.
Tôi xin gửi lời cảm ơn đến Phòng thí nghiệm trọng điểm, Viện Khoa
học vật liệu - Viện Hàn lâm KH&CN VN đã tạo mọi điều kiện thuận lợi về cơ
sở vật chất và các trang thiết bị giúp tôi hoàn thành được luận án.
Tôi xin cảm ơn tất cả các anh, chị, em là NCS, học viên cao học, sinh
viên học tập và làm việc tại Phòng thí nghiệm trọng điểm, Viện Khoa học vật
liệu - Viện Hàn lâm KH&CN VN đã cùng tôi chuẩn bị và thực hiện công nghệ
chế tạo và khảo sát các đặc trưng của vật liệu.
Tôi xin cảm ơn chân thành đến TS. Lê Bá Hải đã tận tình giúp tôi trong
nghiên cứu khoa học, TS. Trần Quang Huy đã giúp tôi thực hiện phép đo
khảo sát hình dạng, TS. Đỗ Ngọc Chung đã hướng dẫn tôi thực hiện phép đo
khảo sát hấp thụ quang của vật liệu.
Cuối cùng, tôi xin được gửi lời cảm ơn đến gia đình, bạn bè, đồng
nghiệp đã luôn bên cạnh động viên, khích lệ tôi trong những giai đoạn khó
khăn nhất.
Luận án được thực hiện với sự hỗ trợ kinh phí của Trường Đại học
Khoa học - Đại học Thái nguyên, Phòng thí nghiệm trọng điểm, Viện Khoa
học vật liệu - Viện Hàn lâm KH&CN VN.
MỤC LỤC
Trang
Danh mục các ký hiệu và chữ viết tắt ................................................................ i
Danh mục các bảng .......................................................................................... iii
Danh mục các hình vẽ và đồ thị ....................................................................... iv
Ký hiệu các mẫu nghiên cứu .......................................................................... xiv
MỞ ĐẦU ........................................................................................................... 1
Chƣơng 1. TỔNG QUAN VỀ CHẾ TẠO VÀ TÍNH CHẤT QUANG
CỦA TETRAPOD ............................................................................................ 5
1.1. Chế tạo……................................................................................................ 5
1.1.1. Các cơ chế tạo thành tetrapod ............................................................ 5
1.1.2. Ảnh hƣởng của nhiệt độ phản ứng và ligand đến cấu trúc tinh thể....7
1.1.3. Kỹ thuật chế tạo tetrapod đồng chất và dị chất ................................ 11
1.2. Tính chất quang ........................................................................................ 17
1.2.1. Cấu trúc vùng năng lƣợng và phân bố hạt tải..................................17
1.2.2. Các giải pháp điều khiển phân bố hạt tải……. ............................... 19
1.2.3. Cấu trúc điện tử và tính chất quang ................................................ 21
1.2.4. Ảnh hƣởng của công suất kích thích quang .................................... 25
1.2.5. Ảnh hƣởng của nhiệt độ .................................................................. 29
Kết luận chƣơng 1 ........................................................................................... 33
Chƣơng 2. THỰC NGHIỆM ........................................................................... 34
2.1. Chế tạo...................................................................................................... 34
2.1.1. Nguyên liệu và hóa chất ................................................................... 34
2.1.2. Chế tạo các dung dịch tiền chất ....................................................... 35
2.1.3. Tetrapod CdSe.................................................................................. 35
2.1.4. Tetrapod dị chất ............................................................................... 36
2.1.5. Tetrapod-giếng lƣợng tử .................................................................. 40
2.1.6. Làm sạch mẫu ................................................................................... 42
2.2. Các phƣơng pháp khảo sát đặc trƣng của mẫu ......................................... 42
2.2.1. Hiển vi điện tử truyền qua ................................................................ 43
2.2.2. Nhiễu xạ tia X .................................................................................. 43
2.2.3. Hấp thụ quang .................................................................................. 44
2.2.4. Quang huỳnh quang ......................................................................... 44
2.2.5. Kích thích quang huỳnh quang ........................................................ 46
Kết luận chƣơng 2 ........................................................................................... 47
Chƣơng 3. KẾT QUẢ NGHIÊN CỨU CHẾ TẠO TETRAPOD CdSe,
CdSe/CdS VÀ TETRAPOD-GIẾNG LƢỢNG TỬ LÕI (ZB-CdSe)/
NHÁNH (WZ-CdSe/CdSe1-xSx/CdSe1-ySy/CdSe1-zSz) .................................... 48
3.1. Tetrapod CdSe .......................................................................................... 48
3.2. Tetrapod dị chất........................................................................................ 52
3.2.1. Vai trò của axit oleic và tri-n-octylphosphine đối với
cấu trúc tinh thể của NC CdSe ...................................................... ..52
3.2.2. Ảnh hƣởng của nồng độ tiền chất và oleylamine đến
sự phát triển các nhánh CdS từ lõi CdSe ........................................ 57
3.3. Tetrapod-giếng lƣợng tử .......................................................................... 67
Kết luận chƣơng 3 ........................................................................................... 73
Chƣơng 4. KẾT QUẢ NGHIÊN CỨU TÍNH CHẤT QUANG CỦA
TETRAPOD CdSe, CdSe/CdSe1-xSx VÀ TETRAPOD-GIẾNG LƢỢNG TỬ
LÕI (ZB-CdSe)/NHÁNH (WZ-CdSe/CdSe1-xSx/CdSe1-ySy/CdSe1-zSz).......... 74
4.1. Tetrapod CdSe .......................................................................................... 74
4.1.1. Đặc trƣng hấp thụ và quang huỳnh quang……...............................74
4.1.2. Bản chất các chuyển dời quang ....................................................... 79
4.1.3. Sự phụ thuộc công suất kích thích quang ....................................... 84
4.2. Tetrapod dị chất và tetrapod-giếng lƣợng tử............................................86
4.2.1. Các mẫu nghiên cứu ........................................................................ 86
4.2.2. Sự tái chuẩn hóa vùng cấm ............................................................. 90
4.2.3. Sự truyền hạt tải từ giếng thế vào lõi .............................................. 97
4.2.4. Hiện tƣợng chống dập tắt huỳnh quang do nhiệt độ
và dập tắt huỳnh quang tại nhiệt độ thấp ........................................ 99
Kết luận chƣơng 4 ......................................................................................... 109
KẾT LUẬN ................................................................................................... 110
DANH MỤC CÔNG TRÌNH KHOA HỌC CỦA TÁC GIẢ
LIÊN QUAN ĐẾN LUẬN ÁN ..................................................................... 112
TÀI LIỆU THAM KHẢO ............................................................................. 114
PHỤ LỤC ...................................................................................................... 132
DANH MỤC CÁC KÝ HIỆU VÀ CHỮ VIẾT TẮT
1. Các ký hiệu
e: Điện tử
Eg: Năng lƣợng vùng cấm
h: Lỗ trống
IPL: Cƣờng độ PL tích phân
: Hệ số nhiệt độ
kB: Hằng số Boltzmann
: Nhiệt độ Debye
n: Nồng độ hạt tải
: Hệ số chuẩn hóa vùng cấm
P: Công suất kích thích quang
: Hằng số Planck
r: Bán kính
γ : Hệ số góc của đƣờng làm khớp
T: Nhiệt độ
d: Đƣờng kính
m: số phonon LO
Ea: Năng lƣợng kích hoạt nhiệt
[…]: Nồng độ tiền chất …
2. Các chữ viết tắt
Chữ
viết tắt
Tiếng Anh
Tiếng Việt
BGR
Band gap renormalization
Tái chuẩn hóa vùng cấm
CB
Conduction band
Vùng dẫn
FWHM
Full width at half maximum
Độ rộng phổ tại nửa cực đại
HDA
Hexadecylamine
Hexadecylamine
High resolution transtion
Hiển vi điện tử truyền qua phân
electronic microscopy
giải cao
LO
Longitudinal optical
Quang dọc
ML
Monolayer
Đơn lớp
MPA
Methylphosphonic acid
Axit methylphosphonic
MQW
Multiquantum well
Nhiều giếng lƣợng tử
NC
Nanocrystal
Nano tinh thể
HRTEM
i
OA
Oleic acid
Axit oleic
OAm
Oleylamine
Oleylamine
ODE
Octadecene
Octadecene
ODA
Octadecylamine
Octadecylamine
ODPA
Octadecylphosphonic acid
Axit octadecylphosphonic
PL
Photoluminescence
Quang huỳnh quang
PLE
Photoluminescence excitation Kích thích quang huỳnh quang
Photoluminescence
Hiệu suất lƣợng tử
quantum yield
quang huỳnh quang
PPA
Propylphosphonic acid
Axit propylphosphonic
QD
Quantum dot
Chấm lƣợng tử
TBP
Tributylphosphine
Tributylphosphine
TDPA
Tetradecylphosphonic acid
Axit tetradecylphosphonic
PL QY
TEM
TMPPA
Transtion electronic
Hiển vi điện tử truyền qua
microscopy
Bis(2,2,4trimethylpentyl)phos Axit bis(2,2,4phinic acid
trimethylpentyl)phosphinic
TOP
Tri-n-octylphosphine
Tri-n-octylphosphine
TOPO
Trioctylphosphine oxide
Oxit trioctylphosphine
TP
Tetrapod
Tetrapod
TPQW
Tetrapod-Quantum well
Tetrapod-giếng lƣợng tử
UCL
Up-convertion luminescence
VB
Valence band
Vùng hóa trị
WZ
Wurtzite
Lục giác
XRD
X-ray diffraction
Nhiễu xạ tia X
ii
Huỳnh quang
chuyển đổi ngƣợc
ZB
Zinc blende
Lập phƣơng giả kẽm
0D
Zero-dimensional
Không chiều
1D
One- dimensional
Một chiều
2D
Two- dimensional
Hai chiều
DANH MỤC CÁC BẢNG
Trang
Bảng 2.1. Ký hiệu và điều kiện chế tạo các mẫu TP CdSe..........................36
Bảng 2.2. Các điều kiện chế tạo nhánh theo qui trình hai bƣớc
(các thí nghiệm 1 và 2) và chế tạo lõi, nhánh theo qui
trình liên tiếp (thí nghiệm 3) ......................................................... 40
Bảng 2.3. Điều kiện chế tạo hai loại mẫu TPQW........................... .............. 42
Bảng 3.1. Các điều kiện chế tạo NC CdSe và CdS ....................................... 55
Bảng 3.2. Điều kiện chế tạo các mẫu TPQW có tỉ số các cƣờng độ
phát xạ tích phân của QW và lõi CdSe khác nhau........................ 72
Bảng 4.1. Ký hiệu và điều kiện chế tạo các cặp mẫu lõi-TP dị chất
và lõi-TPQW đƣợc sử dụng để nghiên cứu tính chất quang ........ 87
Bảng 4.2. Giá trị của các thông số làm khớp theo biểu thức Varshni ........ 104
iii
DANH MỤC CÁC HÌNH VẼ VÀ ĐỒ THỊ
Trang
Hình 1.1. Hình không gian ba chiều của TP ................................................... 5
Hình 1.2. Sự tạo thành TP từ các vi tinh thể có cấu trúc WZ ......................... 6
Hình 1.3. (a) Minh họa cấu trúc tinh thể của lõi và các nhánh của
TP CdSe; (b) Ảnh HRTEM của TP CdSe với lõi có cấu trúc ZB
và các nhánh có cấu trúc WZ. ......................................................... 7
Hình 1.4. Sự phụ thuộc năng lƣợng tự do vào đƣờng kính trung bình
của NC CdSe có cấu trúc ZB (đƣờng liền nét)
và cấu trúc WZ (đƣờng đứt nét). .................................................... 8
Hình 1.5. Giản đồ XRD của NC CdSe đƣợc chế tạo tại các nhiệt độ
khác nhau trong khoảng 345o-370oC .............................................. 8
Hình 1.6. Giản đồ XRD của NC CdSe đƣợc chế tạo tại 230o
trong hỗn hợp phản ứng chứa ODE, OA và: (a) TMPPA-TOPSe;
(b) TMPPA-không TOP; (c) không TMPPA-không TOP;
và (d) không TMPPA-có TOP ........................................................ 9
Hình 1.7. Giản đồ XRD của NC CdSe đƣợc chế tạo khi sử dụng
cadmium oleate và ODE-Se.......................................................... 10
Hình 1.8. Giản đồ XRD của NC CdSe đƣợc chế tạo khi sử dụng TOPSe ... 10
Hình 1.9. Năng lƣợng liên kết của TOP và OA trên các mặt tinh thể
khác nhau của cấu trúc ZB và WZ. Các chữ cái “A” và “B” ở trục
hoành đƣợc sử dụng để chỉ các mặt tinh thể giàu Se và giàu Cd . 11
Hình 1.10. Sự thay đổi hình dạng của NC CdSe vào nồng độ monomer
trong dung dịch phản ứng ............................................................. 12
Hình 1.11. Hình dạng của NC CdTe khi sử dụng các tổ hợp ligand
khác nhau ...................................................................................... 13
Hình 1.12. (a) Ảnh TEM của các TP CdSe có kích thƣớc khác nhau;
iv
(b) Sự phụ thuộc tỉ số chiều dài/đƣờng kính các nhánh của TP
CdSe vào nhiệt độ phản ứng và tốc độ bơm dung dịch tiền chất ...14
Hình 1.13. Ảnh TEM của lõi CdSe và TP CdSe/CdS đƣợc chế tạo
theo qui trình hai bƣớc ................................................................ 15
Hình 1.14. (a) Sự chuyển pha cấu trúc từ ZB sang WZ là yếu tố quyết
định hình dạng TP của cấu trúc nano CdSe/CdS; (b) Ảnh TEM
của cấu trúc nano dị chất CdSe/CdS đƣợc chế tạo khi sử dụng
hỗn hợp ODPA-PPA theo tỉ lệ khối lƣợng 93,5/6,5 và (c) biểu đồ
phụ thuộc hiệu suất tạo thành TP CdSe/CdS vào tỉ lệ khối lƣợng
của ODPA-PPA .......................................................................... 16
Hình 1.15. Giản đồ cấu trúc vùng năng lƣợng của cấu trúc nano bán dẫn:
(a) loại I; (b) loại II; và (c) giả loại II ......................................... 18
Hình 1.16. Vị trí các mức năng lƣợng cơ bản của điện tử và lỗ trống
trong vật liệu khối CdSe có cấu trúc WZ và ZB ........................ 18
Hình 1.17. Phân bố theo bán kính của các hàm sóng điện tử (đƣờng liền nét)
và lỗ trống (đƣờng đứt nét) trong các cấu trúc nano lõi/vỏ loại I
(hình trên) và loại II (hình dƣới). Các bề mặt tiếp giáp lõi/vỏ và
vỏ/ligand đƣợc chỉ ra bằng các đƣờng đứt nét thẳng đứng.
Vị trí bờ vùng dẫn và bờ vùng hóa trị của vật liệu bán dẫn khối
đƣợc biểu diễn tƣơng ứng bằng đƣờng liền nét và đƣờng đứt nét
nằm ngang ................................................................................... 19
Hình 1.18. Giản đồ vùng năng lƣợng của: (a) cấu trúc nano
loại I/loại I CdSe/ZnS/CdSe; và (b) cấu trúc nano loại I/loại II
WZ-CdSe/ZB-CdS/WZ-CdS ...................................................... 20
Hình 1.19. (a) Sự thay đổi phổ PL của cấu trúc nano loại I/loại I
CdSe/ZnS/CdSe theo độ dày lớp vỏ CdSe bên ngoài;
(b) Sự phụ thuộc phổ PL của cấu trúc nano loại I/loại II
v
WZ-CdSe/ZB-CdS/WZ-CdS vào công suất kích thích .............. 21
Hình 1.20. Phân bố điện tử (CB1) và lỗ trống (VB1) trong TP CdSe có
đƣờng kính 2,2 nm và chiều dài nhánh 4,6 nm. Số trong ngoặc đơn
chỉ mức độ suy biến của các trạng thái ................................................. 22
Hình 1.21. Phân bố điện tử và lỗ trống trong TP CdTe:
(a, b) trạng thái cơ bản; và (c, d) trạng thái kích thích thứ nhất . 22
Hình 1.22. Phổ hấp thụ và phổ PL của TP CdSe/CdS có đƣờng kính lõi
CdSe ~ 4 nm và chiều dài nhánh CdS bằng 24 nm .................... 24
Hình 1.23. (a,b) Sự phụ thuộc công suất kích thích của phổ PL của hai
TP CdSe/CdS có đƣờng kính của lõi ~ 4 nm và chiều dài nhánh
khác nhau ((a) 55 nm, (b) 28 nm); (c,d) Giản đồ vùng năng lƣợng
và phân bố các hàm sóng điện tử và lỗ trống ............................. 24
Hình 1.24. Phổ kích thích huỳnh quang (điểm màu đen) và năng lƣợng
phát xạ exciton (điểm màu xám) của cấu trúc QD/lớp ƣớt.
Mũi tên chỉ năng lƣợng bờ vùng của lớp ƣớt ............................. 27
Hình 1.25. Cấu trúc vùng loại II của MQW ZnMnSe/ZnSeTe dƣới
ảnh hƣởng của hiệu ứng uốn cong vùng ..................................... 28
Hình 1.26. Sự phụ thuộc vị trí năng lƣợng của đỉnh phát xạ vào
căn bậc ba của công suất kích thích quang ................................. 28
Hình 1.27. Sự thay đổi cƣờng độ PL tích phân theo nhiệt độ của:
(a) lõi CdSe và các cấu trúc lõi/vỏ: (b) CdSe/ZnS(3ML) và
CdSe/CdS(3ML), (c) CdSe/CdS(6ML) và
CdSe/[CdS/CdZnS/ZnS](6ML). Chi tiết đƣợc nêu trong
phần trình bày ............................................................................. 31
Hình 2.1.
Giản đồ nhiệt độ-thời gian chế tạo TP dị chất theo
qui trình liên tiếp ......................................................................... 39
Hình 2.2.
Giản đồ nhiệt độ-thời gian chế tạo TPQW: (a) loại 1; và
vi
(b) loại 2. Đƣờng liền nét thể hiện xu hƣớng thay đổi
nhiệt độ trong quá trình chế tạo. Các mũi tên chỉ thời điểm bơm
các dung dịch tiền chất TOPSe và S ............................................. 41
Hình 2.3. Bố trí thí nghiệm khảo sát sự phụ thuộc phổ PL
vào nhiệt độ khi sử dụng phổ kế LABRAM-1B và
thiết bị Linkam THMS 600........................................................... 45
Hình 3.1. Giản đồ XRD của TP CdSe thuộc hệ mẫu T1 đƣợc chế tạo tại
thời gian phản ứng 30 phút ........................................................... 48
Hình 3.2. Ảnh TEM của 5 mẫu TP CdSe thuộc hệ mẫu T1 đƣợc chế tạo
tại nhiệt độ 200oC/200oC với các thời gian phản ứng khác nhau:
(a) 6 phút, (b) 12 phút, (c) 30 phút, (d) 60 phút, và (e) 180 phút.
Thang đo là 20 nm ........................................................................ 49
Hình 3.3. Ảnh TEM của 5 mẫu TP CdSe thuộc hệ mẫu T2 đƣợc chế tạo
tại nhiệt độ 260oC/220oC với các thời gian phản ứng khác nhau:
(a) 3 phút, (b) 6 phút, (c) 20 phút, (d) 45 phút, và (e) 60 phút.
Thang đo là 20 nm ........................................................................ 50
Hình 3.4. Cơ chế thay đổi kích thƣớc của TP khi nồng độ monomer
trong dung dịch phản ứng ở mức thấp .......................................... 51
Hình 3.5. Ảnh TEM của các NC CdSe đƣợc chế tạo tại 280oC,
[OA]=0,05 M với thời gian phản ứng khác nhau: (a) 0,5 phút;
(b) 30 phút; và (c) 60 phút ............................................................ 53
Hình 3.6. Ảnh TEM của các NC CdSe đƣợc chế tạo với [OA]=0,05 M tại
các nhiệt độ và thời gian phản ứng: (a) 200oC, 30 phút;
(b) 280oC, 20 phút; và (c) 310oC, 5 phút ...................................... 53
Hình 3.7. Giản đồ XRD của các mẫu NC CdSe tƣơng ứng với:
(a) Hình 3.5; và (b) Hình 3.6 ........................................................ 54
Hình 3.8. Giản đồ XRD của các NC CdSe chế tạo tại 280oC
vii
với các nồng độ OA bằng 0,05 M và 0,4 M ............................... 54
Hình 3.9.
Ảnh TEM và giản đồ XRD của NC CdS đƣợc chế tạo trong
hệ phản ứng ODE-OA tại 280oC với các nồng độ [OA]=0,2 M;
[Cd]=0,033 M và [S]=0,017 M ................................................... 57
Hình 3.10. Ảnh TEM của các NC CdSe/CdS đƣợc chế tạo theo qui trình
hai bƣớc tại nhiệt độ: (a) 170oC; và (b) 240oC ........................... 58
Hình 3.11. Ảnh TEM của các NC CdSe/CdS đƣợc chế tạo theo qui trình
hai bƣớc trong hệ phản ứng OAm-OA và tại các nhiệt độ
khác nhau: (a) 170oC; và (b) 240oC ............................................ 58
Hình 3.12. Ảnh TEM của các NC CdSe đƣợc chế tạo tại 200oC:
(a) khi không sử dụng TOP; và (b) sử dụng TOP.
Các thông số công nghệ khác đƣợc giữ giống nhau ................... 59
Hình 3.13. Ảnh TEM của các NC CdSe đƣợc chế tạo với [OA]=0,05 M
tại các nhiệt độ và thời gian phản ứng: (a) 250oC, 2 phút;
(b) 265oC, 2 phút; (c) 290oC, 2 phút; và (d) 300oC, 5 phút ....... 61
Hình 3.14. Giản đồ XRD của các NC CdSe đƣợc chế tạo tại
các nhiệt độ khác nhau. Nhiệt độ phản ứng đƣợc ghi
tƣơng ứng trên mỗi giản đồ ...................................................... ..61
Hình 3.15. Ảnh TEM của các NC CdSe đƣợc chế tạo tại 300 oC,
[OA]=0,05 M với các thời gian phản ứng: (a) 5 giây; (b) 30 giây;
và (c) 5 phút ................................................................................ 62
Hình 3.16. Ảnh TEM của các mẫu NC CdSe đƣợc chế tạo tại …oC
với các nồng độ OA và thời gian phản ứng: (a) 0,33 M, 5 phút;
và (b) 0,05 M, 5 phút .................................................................. 62
Hình 3.17. Ảnh TEM của lõi CdSe đƣợc chế tạo tại 280oC với các nồng độ
[OA]=0,05 M, [TOP]=0,017 M và thời gian phản ứng 2 phút ... 63
Hình 3.18. Ảnh TEM của hai mẫu TP CdSe/CdSe1-xSx đại diện đƣợc
viii
chế tạo theo qui trình liên tiếp .................................................... 64
Hình 3.19. Ảnh TEM của (a) lõi CdSe và (b) NC dị chất ........................... 64
Hình 3.20. Ảnh TEM của (a) lõi CdSe và (b) NC dị chất ........................... 65
Hình 3.21. (a) Phổ hấp thụ và phổ PL của các mẫu NC nhận đƣợc tại
các thời điểm phản ứng khác nhau; và (b) Phổ PL của các
TP CdSe/CdSe1-xSx đƣợc chế tạo với các nhiệt độ ban đầu
khác nhau. . ................................................................................. 66
Hình 3.22. Ảnh TEM của (a) TPQW loại 1 và (b) TPQW loại 2 ................. 67
Hình 3.23. Sự thay đổi phổ hấp thụ và phổ PL theo thời gian phản ứng
của: (a) TPQW loại 1; và (b) TPQW loại 2 ................................ 68
Hình 3.24. Phổ hấp thụ (đƣờng liền nét màu nâu), đạo hàm bậc hai của
phổ hấp thụ (đƣờng đứt nét màu xanh) và phổ PL (đƣờng liền
nét màu đỏ) của: (a) mẫu TPQW loại 1 tại 22 phút; và (b) mẫu
TPQW loại 2 tại 31 phút. Các mũi tên về phía năng lƣợng thấp
và cao chỉ đáy và các thành giếng thế......................................... 70
Hình 3.25. Phổ hấp thụ (đƣờng liền nét màu nâu), đạo hàm bậc hai phổ
hấp thụ (đƣờng đứt nét màu xanh) và phổ PL (đƣờng liền nét
màu đỏ) của mẫu TPQW có tỉ số cƣờng độ phát xạ của QW
và lõi lớn nhất. Vị trí năng lƣợng của đáy và thành giếng thế
đƣợc chỉ ra bằng các đƣờng liền nét thẳng đứng. Các mũi tên về
phía năng lƣợng thấp và cao chỉ đáy và các thành giếng thế ..... 71
Hình 3.26. Phổ PL của một số mẫu TPQW có tỉ số các cƣờng độ phát xạ
của QW và lõi CdSe khác nhau. Cƣờng độ phát xạ từ lõi CdSe
của các mẫu đã đƣợc chuẩn hóa ................................................. 72
Hình 4.1.
Sự thay đổi phổ hấp thụ (đƣờng liền nét) và phổ PL (đƣờng đứt
nét) theo thời gian phản ứng của các hệ mẫu (a) T1, và (b) T2 . 75
Hình 4.2.
(a) Sự thay đổi phổ hấp thụ (đƣờng liền nét), phổ PL
ix
(đƣờng đứt nét) của hệ mẫu D; và (b) sự thay đổi năng lƣợng hấp
thụ, năng lƣợng phát xạ của các hệ mẫu T1 và D theo thời gian
phản ứng........................................................................................ 75
Hình 4.3. Sự thay đổi phổ hấp thụ (đƣờng liền nét) và phổ PL
(đƣờng đứt nét) của (a) hệ mẫu T3, và (b) hệ mẫu T4
theo thời gian phản ứng ................................................................ 77
Hình 4.4. Sự thay đổi phổ hấp thụ (đƣờng liền nét) và phổ PL (đƣờng đứt
nét) của mẫu TP CdSe 180 phút theo thời gian: (a) sau khi chế tạo,
và đo lại sau (b) 1 năm, (c) 2 năm, (d) 3 năm phơi sáng dƣới bức
xạ đèn huỳnh quang T8 ................................................................. 79
Hình 4.5. (a) Phổ hấp thụ (đƣờng liền nét) và phổ PL (đƣờng đứt nét)
của hai mẫu TP CdSe thuộc hệ T1 (a1) và hệ T2 (a2). Các đỉnh
hấp thụ và PL đƣợc chỉ ra bằng các mũi tên và đƣờng thẳng đứng;
(b) Mối liên quan giữa năng lƣợng phát xạ P2LE và năng lƣợng
hấp thụ A2LE1 của hai hệ mẫu T1 và T2. Đƣờng liền nét chỉ ra
xu hƣớng thay đổi năng lƣợng phát xạ theo năng lƣợng hấp thụ
của QD thuộc hệ mẫu D ................................................................ 82
Hình 4.6. Giản đồ vùng năng lƣợng và phổ PL có cấu trúc hai đỉnh của TP
CdSe. Các chuyển dời quang đƣợc biểu diễn bằng các mũi tên... 83
Hình 4.7. Phổ PL phụ thuộc công suất kích thích của ba mẫu TP CdSe thuộc
hệ mẫu T1 và đƣợc chế tạo với các thời gian phản ứng: (a) 6
phút, (b) 12 phút, (c) 30 phút. Các mũi tên chỉ chiều tăng của
công suất kích thích; (d) và (e) tƣơng ứng là vị trí năng lƣợng
của các đỉnh P1LE, P2LE, và (f) là tỉ số các cƣờng độ tích phân
I P1LE / I P 2LE của các mẫu.Các đƣờng liền nét thể hiện xu hƣớng thay
đổi các đặc trƣng phổ theo công suất kích thích ........................... 85
Hình 4.8. Ảnh TEM của các cặp mẫu: (a1, b1) C-TG; (a2, b2) C1-TW1;
x
và (a3,b3) C2-TW2 ..................................................................... 88
Hình 4.9.
Các phổ hấp thụ, PL và PLE của các cặp mẫu: (a) C-TG;
(b) C1-TW1; và (c) C2-TW2. Các phổ PLEL và PLEH đƣợc dò
tìm tại các giá trị năng lƣợng tƣơng ứng với vị trí các đỉnh phát
xạ của TPQW tại năng lƣợng thấp và năng lƣợng cao ............... 89
Hình 4.10. Giản đồ cấu trúc vùng năng lƣợng của các mẫu: (a) TG;
(b) TW1 và (c) TW2 đƣợc mô tả với lõi và một nhánh của TP.
Eg1, Eg2 và Eg3 tƣơng ứng là năng lƣợng vùng cấm của lõi
ZB-CdSe, phần nhánh WZ-CdSe1-xSx giàu Se tiếp giáp với lõi,
và của giếng thế .......................................................................... 90
Hình 4.11. Sự thay đổi phổ PL của các cặp mẫu: (a) C-TG, và (b) C1-TW1
theo công suất kích thích trong khoảng 0,006-18 mW.
Hƣớng mũi tên chỉ chiều tăng của công suất kích thích ............. 90
Hình 4.12. Phổ PL của các cặp mẫu (a) C-TG và (b) C1-TW1 đƣợc đo với
các công suất kích thích 0,06 mW (đƣờng đứt nét, màu xanh)
và 18 mW (đƣờng liền nét, màu nâu). Cƣờng độ của các
đỉnh PLE đã đƣợc chuẩn hóa ........................................................ 91
Hình 4.13. Kết quả phân tích phổ PL của các mẫu: (a) C; (b) TG;
đƣợc đo với các công suất kích thích 0,06 và 18 mW. ............... 92
Hình 4.14. Kết quả phân tích phổ PL của các mẫu: (a) C1; và (b) TW1
đƣợc đo với các công suất kích thích 0,06 và 18 mW ................ 93
Hình 4.15. (a) Sự thay đổi phổ PL của cặp mẫu C2-TW2 theo công suất kích
thích trong khoảng 0,006-18 mW. Hƣớng mũi tên chỉ chiều tăng
của công suất kích thích; (b) So sánh phổ PL của các mẫu C2 và
TW2 đƣợc đo với công suất kích thích 0,06 mW (đƣờng đứt nét)
và 18 mW (đƣờng liền nét) ......................................................... 94
Hình 4.16. Sự phụ thuộc độ dịch năng lƣợng E của đỉnh phát xạ P2LE
xi
vào công suất kích thích đối với các cặp mẫu: (a) C-TG; và
(b) C1-TW1. Các đƣờng liền nét chỉ ra xu hƣớng thay đổi E
theo công suất kích thích ............................................................ 95
Hình 4.17. So sánh sự phụ thuộc độ dịch năng lƣợng E của đỉnh
phát xạ P2LE vào công suất kích thích đối với: (a) các mẫu lõi; và
(b) các mẫu TP. Các đƣờng liền nét chỉ ra xu hƣớng thay đổi
E theo công suất kích thích ...................................................... 96
Hình 4.18. Sự phụ thuộc cƣờng độ tích phân của các đỉnh phát xạ PLE và
PHE vào công suất kích thích quang đối với các cặp mẫu:
(a) C1-TW1; và (b) C2-TW2 ...................................................... 97
Hình 4.19. Sự thay đổi tỉ số các cƣờng độ tích phân: (a) ILE_TW1/ILE_C1
và IHE_TW1/ILE_TW1 ; (b) ILE_TW2/ILE_C2 và IHE_TW2/ILE_TW2 theo công
suất kích thích quang. Các đƣờng liền nét chỉ ra xu hƣớng thay
đổi các tỉ số cƣờng độ phát xạ theo công suất kích thích ........... 98
Hình 4.20. (a) Sự thay đổi phổ PL của các mẫu C1 và TW1 trong khoảng
80-300K; (b) So sánh các phổ PL tại 80K (đƣờng liền nét, màu
nâu) và 300K (đƣờng đứt nét, màu xanh). Cƣờng độ của các đỉnh
PLE đã đƣợc chuẩn hóa .............................................................. 101
Hình 4.21. (a) Sự thay đổi cƣờng độ tích phân của các đỉnh phát xạ PLE
và PHE theo nhiệt độ; (b) Sự phụ thuộc nhiệt độ của các cƣờng độ
phát xạ tích phân đƣợc biểu diễn trong hệ tọa độ log(cƣờng độ
tích phân)-1/kBT. Các đƣờng liền nét chỉ ra xu hƣớng thay đổi
các cƣờng độ phát xạ tích phân theo nhiệt độ........................... 102
Hình 4.22. Sự thay đổi năng lƣợng phát xạ theo nhiệt độ của:
(a) đỉnh P2LE đối với mẫu C1 và TW1; và (b) đỉnh PHE đối với
mẫu TW1 và QW1. Đƣờng liền nét là kết quả làm khớp biểu
thức Varshni với các số liệu thực nghiệm……………………. 103
xii
Hình 4.23. (a) Sự phụ thuộc cƣờng độ phát xạ tích phân PHE của các
mẫu TW1 và QW1 vào nhiệt độ. Đƣờng liền nét chỉ xu hƣớng
thay đổi cƣờng độ phát xạ PHE theo nhiệt độ; (b) Phổ PL của mẫu
QW1 tại 120 và 240K. Mũi tên chỉ vai phổ phía năng lƣợng cao
của mẫu QW1 tại 120K. ........................................................... 105
Hình 4.24. (a) Phổ hấp thụ, phổ PL và bƣớc sóng kích thích đƣợc
sử dụng trong thực nghiệm đo UCL của các mẫu TW1 và TW2;
(b) Phổ UCL tại 80 K của các mẫu TW1 và TW2 đƣợc đo với
cùng công suất kích thích ......................................................... 107
Hình 4.25. (a) Sự thay đổi phổ UCL của mẫu TW2 theo công suất
kích thích. Mũi tên chỉ chiều tăng của công suất kích thích;
(b) Sự phụ thuộc cƣờng độ UCL của mẫu TW2 vào công suất
kích thích ................................................................................... 108
xiii
- Xem thêm -